半导体器件机械和气候试验方法第25部分：温度循环

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 25: Temperature cycling

GB/T 4937.25-2025现行国家标准

标准状态

发布于：2025-12-02

实施于：2026-07-01

废止

标准号GB/T 4937.25-2025

标准状态现行

发布日期2025-12-02

实施日期2026-07-01

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）