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发光二极管光学性能测试方法

JB/T 10875-2008已废止行业标准

标准状态

发布于:2008-06-04
实施于:2008-11-01
已废止

基本信息

JB/T 10875-2008
已废止
2008-06-04
2008-11-01
L53 半导体发光器件
国家发展和改革委员会
全国光学和光子学标准化技术委员会
上海理工大学、上海半导体照明工程技术研究中心等
庄松林、杨卫桥

标准简介

本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。 本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和功率器件的光学性能测试参照执行。 本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。

内容预览

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