半导体集成电路快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

GB/T 36477-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-06-07

实施于：2019-01-01

废止

标准号GB/T 36477-2018

标准状态现行

发布日期2018-06-07

实施日期2019-01-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、复旦大学

起草人菅端端、陈大为、冯光涛、倪昊、田万廷、高硕、钟明琛、罗晓羽、赵子鉴、董艺、闵昊、刘刚

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。