半导体器件 集成电路 第2-10部分数字集成电路集成电路动态读写存储器空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2-10:Digital integrated circuits--Blank detail specification for integrated circuit dynamicread/write memories
标准状态
发布于：2003-11-24
实施于：2004-08-01
废止
基本信息
GB/T 17574.10-2003
现行
2003-11-24
2004-08-01
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部（电子）
中国电子技术标准化研究所（CESI）
标准简介
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。
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