半导体集成电路电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

GB/T 35006-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-03-15

实施于：2018-08-01

废止

标准号GB/T 35006-2018

标准状态现行

发布日期2018-03-15

实施日期2018-08-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位深圳市国微电子有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司

起草人宦承永、邬海忠、王小强、罗彬、陆坚、魏军

本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。