半导体器件 通用鉴定指南 第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念
Semiconductor devices—Generic qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification
标准状态
发布于：2026-09-28
实施于：2027-04-01
废止
基本信息
GB/T 48216.2-2026
即将实施
2026-09-28
2027-04-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）