红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

GB/T 17444-2013现行国家标准

标准状态

发布于：2013-11-12

实施于：2014-04-15

废止

标准号GB/T 17444-2013

标准状态现行

发布日期2013-11-12

实施日期2014-04-15

中国标准分类号L52 红外器件

国际标准分类号31.260 光电子学、激光设备

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

代替标准GB/T 17444-1998

起草单位中国科学院上海技术物理研究所

起草人丁瑞军、梁平治、曹妩媚、殷建军、唐红兰、陈洪雷

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。