半导体发光二极管芯片
标准状态
发布于：2011-10-28
实施于：2012-02-15
已废止
基本信息
DB35/T 1193-2011
已废止
2011-10-28
2012-02-15
福建省质量技术监督局
福建省信息化局
厦门市质量技术监督局
国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心、厦门市产品质量监督检验院、厦门市三安光电科技有限公司、厦门市标准化协会
刘毅清、葛莉荭、梁奋、陈晓玲、蔡伟智、傅诺毅、庄鹏、庄庆瑞、田力军、李仲超
标准简介
本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行。
内容预览
