基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第2部分：光电耦合器件

SJ/T 11845.2-2022现行行业标准

标准状态

发布于：2022-10-20

实施于：2023-01-01

废止

标准号SJ/T 11845.2-2022

标准状态现行

发布日期2022-10-20

实施日期2023-01-01

中国标准分类号L50 光电子器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

发布部门工业和信息化部

技术归口工业和信息化部

提出单位工业和信息化部

起草单位中国运载火箭技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司、西安电子科技大学、北京瑞普北光电子有限公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所、苏州半导体总厂有限公司、深圳市量为科技有限公司

起草人加春雷、包军林、王四新、熊盛阳、张伟、余永涛、赵美星、王君、顾惠萍、李兆成、孙立军

本文件规定了用于光电耦合器件（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。本文件适用于输出端为两端口的器件，包括光敏二极管输出型器件、光敏晶体管输出型器件、光敏达林顿管输出型器件、光电池输出型器件、光控品闸管输出型器件。