半导体发光二极管测试方法

SJ/T 11394-2009现行行业标准

标准状态

发布于：2009-11-17

实施于：2010-01-01

废止

标准号SJ/T 11394-2009

标准状态现行

发布日期2009-11-17

实施日期2010-01-01

中国标准分类号L45 微波、毫米波二、三极管

国际标准分类号31.260 光电子学、激光设备

发布部门工业和信息化部

技术归口中国电子技术标准化研究所

代替标准SJ/T 2355.1～2355.7-1983

起草单位中国光学光电子行业协会光电器件分会

起草人鲍超

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。