半导体发光二极管芯片测试方法
标准状态
发布于：2009-11-17
实施于：2010-01-01
废止
基本信息
SJ/T 11399-2009
现行
2009-11-17
2010-01-01
工业和信息化部
中国电子技术标准化研究所
中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
鲍超、胡爱华
标准简介
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
内容预览
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。