非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory

GB/T 35003-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-03-15

实施于：2018-08-01

废止

标准号GB/T 35003-2018

标准状态现行

发布日期2018-03-15

实施日期2018-08-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳市国微电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、成都华微电子科技有限公司

起草人罗晓羽、董艺、刘妙、谢休华、郭晓宇、高硕

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。