半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法
标准状态
发布于：2022-10-20
实施于：2023-01-01
废止
基本信息
SJ/T 11818.1-2022
现行
2022-10-20
2023-01-01
工业和信息化部
中国电子技术标准化研究
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标准简介
本文件规定了半导体紫外发射二极管（以下简称器件）辐射度参数测试方法，包括测试条件、测试仪器、测试步骤等。 本文件适用于峰值波长200nm~400nm器件的测试，峰值波长400nm~420nm器件的测试方法可参照执行。
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