Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
Test method for microwave characteristics of Sub-6GHz GaN radio-frequency devices
标准状态
发布于：2023-06-30
实施于：2023-07-01
废止
基本信息
T/CASAS 029-2023
现行
2023-06-30
2023-07-01
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
默江辉、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏
标准简介
本文件描述了 Sub-6GHz GaN 射频器件微波特性的详细测试方法，用户根据需求与实际情况参考使用。 本文件适用于共源组成方式的 GaN 射频器件的测试分析及质量评价。
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