半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits

GB/T 4589.1-2006现行国家标准

标准状态

发布于：2006-10-10

实施于：2007-02-01

废止

标准号GB/T 4589.1-2006

标准状态现行

发布日期2006-10-10

实施日期2007-02-01

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

代替标准GB/T 4589.1-1989

起草单位中国电子技术标准化研究所

起草人罗发明、陈裕昆、金毓铨

本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。