半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
标准状态
发布于：2018-09-17
实施于：2019-01-01
废止
基本信息
GB/T 4937.12-2018
现行
2018-09-17
2019-01-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
中国电子科技集团公司第十三研究所
迟雷、彭浩、崔波、高金环、岳振鹏、李树杰、裴选、张艳杰
标准简介
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。 本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
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