高频开关应用下GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法
Test method for continuous-switching operation reliability of GaN power devices under high frequency switched conditions
标准状态
发布于：2025-08-29
实施于：2025-08-29
废止
基本信息
T/CASAS 057-2025
现行
2025-08-29
2025-08-29
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
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叶念慈、刘成、徐涵、严丹妮、许亚坡、刘扬、贺致远、明鑫、曾威、王小明、王文平、戴婷婷、罗卓然、向鹏、贾利芳、刘家才、菅端端、武乐可、孙海洋、耿霄雄、谢斌、刘强、高伟。
标准简介
本文件描述了用于评估高频开关应用下（频率≥100 kHz）GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法，用以表征及评估GaN功率器件在连续开关应力作用下器件的退化及失效。 本文件适用于GaN 功率器件的生产研发、特性表征、量产测试、可靠性评估及应用评估等工作场景。可应用于以下器件： 1） GaN增强型（E-Mode）和耗尽型（D-Mode）分立功率电子器件； 2） GaN功率集成器件和共源共栅GaN功率器件； 3） 以上的晶圆级及封装级产品。
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