半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
标准状态
发布于：2025-12-02
实施于：2026-07-01
废止
基本信息
GB/T 4937.44-2025
现行
2025-12-02
2026-07-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）