电容式指纹采集芯片参数测试方法（英文版）
Test methods for capacitive fingerprint acquisition chip parameters
标准状态
发布于：2026-09-28
实施于：2027-04-01
废止
基本信息
GB/T 48207-2026
即将实施
2026-09-28
2027-04-01
工业和信息化部（电子）
State Administration for Market Regulation and Standardization Administration of China
National Technical Committee 599 on Integrated Circuits of Standardization Administration of China (SAC/TC 599)
Ministry of Industry and Information Technology of the People's Republic of China
池州华宇电子科技股份有限公司; 中绍宣科技集团有限公司; 深圳市锐欧光学股份有限公司; 深圳市魔力信息技术有限公司; 深圳市德为先科技有限公司; 安庆师范大学; 东莞市南北检测认证技术有限公司; 杭州朗迅科技股份有限公司; 宁波群芯微电子股份有限公司; 杭州八爪鱼微电子有限公司; 江西华创触控科技有限公司; 广东祺力电子有限公司; 河北辛芯智能科技有限公司; 九江赣邦信息科技有限公司; 珠海全球时代科技股份有限公司; 安徽协创物联网技术有限公司; 北京初星涌现智能科技有限公司
PENG Yong, ZUO Junying, LI Yingcai, MEI Yuanpu, HAN Ruolan, DU Qing, QIN Jin, CAI Xueyuan, FAN Xuefei, XU Zhen, SHEN Chunlin, PEI Yu, XI Bangzi, TANG Huanming, HAN Xiaozhou, LIU Shengyin, YE Xinwen, YI Zhou and ZOU Yimin
标准简介
This document describes the test methods for the parameters of capacitive fingerprint acquisition chips. This document is applicable to the parameter testing of capacitive fingerprint acquisition chips.
内容预览
