半导体集成电路采样保持放大器测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

GB/T 14115-1993现行国家标准

标准状态

发布于：1993-01-21

实施于：1993-08-01

废止

标准号GB/T 14115-1993

标准状态现行

发布日期1993-01-21

实施日期1993-08-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家技术监督局

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位上海元件五厂

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器（以下简称器件）电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。