染色体异常检测基因芯片通用技术要求
General technical requirement for chromosomal abnormality detection microarray
标准状态
发布于：2017-12-29
实施于：2018-07-01
废止
基本信息
GB/T 35533-2017
现行
2017-12-29
2018-07-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
博奥生物集团有限公司、北京大学第三医院、北京博奥晶典生物科技有限公司、深圳市第三人民医院、清华大学、中国计量科学研究研究、北京博奥医学检验所有限公司
孙义民、郭弘妍、邓涛、许俊泉、王晶、乔杰、王辉、王亚辉、张川、单万水、邢婉丽、程京
标准简介
本标准规定了染色体异常检测基因芯片的术语和定义、检测样品、产品声明、芯片要求、结果报告、 检测服务认可等要求。 本标准适用于人体染色体异常检测基因芯片产品及服务。
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