半导体集成电路 电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
标准状态
发布于：2018-03-15
实施于：2018-08-01
废止
基本信息
GB/T 4377-2018
现行
2018-03-15
2018-08-01
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
GB/T 4377-1996
圣邦微电子（北京）股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、北京宇翔电子有限公司
王鸿儒、袁莹莹、张宝华、张冰、邹臣、朱华、陈志培、罗彬
标准简介
本标准规定了电压调整器（以下称为器件）参数测试方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
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