半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
标准状态
发布于：2023-08-06
实施于：2023-12-01
废止
基本信息
GB/T 42838-2023
现行
2023-08-06
2023-12-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部
中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所
尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明
标准简介
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。 本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
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