半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
标准状态
发布于：2025-12-02
实施于：2026-07-01
废止
基本信息
GB/T 4937.38-2025
现行
2025-12-02
2026-07-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）