半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9：Permanence of marking
标准状态
发布于：2026-02-27
实施于：2026-09-01
废止
基本信息
GB/T 4937.9-2026
现行
2026-02-27
2026-09-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9：Permanence of marking