半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

GB/T 35007-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-03-15

实施于：2018-08-01

废止

标准号GB/T 35007-2018

标准状态现行

发布日期2018-03-15

实施日期2018-08-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市众志联合电子有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人陈雁、罗彬、李锟、蔡志刚、郭超、王会影、邬海忠、钟科

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。