半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
标准状态
发布于：2023-08-06
实施于：2023-12-01
废止
基本信息
GB/T 42848-2023
现行
2023-08-06
2023-12-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部（电子）
成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟
标准简介
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。 本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
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