半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
标准状态
发布于：2025-12-03
实施于：2025-12-26
废止
基本信息
GB/Z 107-2025
现行
2025-12-03
2025-12-26
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices