集成电路电磁发射测量第3部分：辐射发射测量表面扫描法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3: Measurement of radiated emissions—Surface scan method

GB/T 44937.3-2025现行国家标准

标准状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

废止

标准号GB/T 44937.3-2025

标准状态现行

发布日期2025-12-31

实施日期2026-07-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）