半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

GB/T 4937.4-2012现行国家标准

标准状态

发布于：2012-11-05

实施于：2013-02-15

废止

标准号GB/T 4937.4-2012

标准状态现行

发布日期2012-11-05

实施日期2013-02-15

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人李丽霞、陈海蓉、崔波

GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。