半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
标准状态
发布于：2025-05-30
实施于：2025-09-01
废止
基本信息
GB/T 45719-2025
现行
2025-05-30
2025-09-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
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