GaN毫米波前端芯片测试方法

Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC

T/CASAS 030-2023现行团体标准

标准状态

发布于：2023-06-30

实施于：2023-07-01

废止

标准号T/CASAS 030-2023

标准状态现行

发布日期2023-06-30

实施日期2023-07-01

中国标准分类号L40-49 半导体分立器件

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

发布部门北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

团体名称北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草单位中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏

本文件描述了 GaN 毫米波前端芯片(以下简称“GaN 前端芯片”)的测试条件、测试要求和测试方法。本文件适用于 GaN 前端芯片的测试、质量评价。