半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere

GB/T 4937.13-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-09-17

实施于：2019-01-01

废止

标准号GB/T 4937.13-2018

标准状态现行

发布日期2018-09-17

实施日期2019-01-01

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院

起草人张艳杰、彭浩、崔波、高金环、迟雷、张威、李树杰、岳振鹏、裴选、张天福、陈得民、周刚

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。本试验是破坏性试验。本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。