红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

GB/T 17444-1998已废止国家标准

标准状态

发布于：1998-07-30

实施于：1999-05-01

已废止

标准号GB/T 17444-1998

标准状态已废止

发布日期1998-07-30

实施日期1999-05-01

中国标准分类号L52 红外器件

国际标准分类号31.260 光电子学、激光设备

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国科学院上海技术物理研究所

本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。