半导体器件 集成电路
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2:Digital integrated circuits--Section one--Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates(excluding uncommitted logic arrays)
标准状态
发布于：2000-01-03
实施于：2000-07-01
废止
基本信息
GB/T 5965-2000
现行
2000-01-03
2000-07-01
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部（电子）
GB/T 5965-1986
电子工业部标准化研究所
标准简介
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。 IEC 747-10/QC 700000半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范要求的资料。
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