半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators
标准状态
发布于:1996-07-09
实施于:1997-01-01
废止
基本信息
GB/T 6798-1996
现行
1996-07-09
1997-01-01
工业和信息化部(电子)
国家技术监督局
工业和信息化部(电子)
GB 6798-1986
北京半导体器件研究所
标准简介
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。