半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41：Test method for reliability of non-volatile memory devices
标准状态
发布于：2026-02-27
实施于：2026-09-01
废止
基本信息
GB/T 4937.41-2026
现行
2026-02-27
2026-09-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）