半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator

GB/T 4377-1996已废止国家标准

标准状态

发布于：1996-07-09

实施于：1997-01-01

已废止

标准号GB/T 4377-1996

标准状态已废止

发布日期1996-07-09

实施日期1997-01-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家技术监督局

技术归口工业和信息化部（电子）

代替标准GB 4377-1984

起草单位北京半导体器件五厂

本标准规定了半导体集成电路电压调整器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。