半导体集成电路模拟开关测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

GB/T 14028-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-03-15

实施于：2018-08-01

废止

标准号GB/T 14028-2018

标准状态现行

发布日期2018-03-15

实施日期2018-08-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

代替标准GB/T 14028-1992

起草单位中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司

起草人张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。