半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

GB/T 4937.1-2006现行国家标准

标准状态

发布于：2006-08-23

实施于：2007-02-01

废止

标准号GB/T 4937.1-2006

标准状态现行

发布日期2006-08-23

实施日期2007-02-01

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080.01 半导体分立器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人陈海蓉、崔波

本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。