集成电路电磁发射测量第6部分：传导发射测量磁场探头法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6: Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method

GB/T 44937.6-2025现行国家标准

标准状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

废止

标准号GB/T 44937.6-2025

标准状态现行

发布日期2025-12-31

实施日期2026-07-01

中国标准分类号L56 半导体集成电路

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）