H21 金属物理性能试验方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 14141-1993	硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定	已废止	1993-02-06	1993-10-01
GB/T 14140.1-1993	硅片直径测量方法光学投影法	已废止	1993-02-06	1993-10-01
GB/T 14202-1993	铁矿石(烧结矿、球团矿) 容积密度测定方法	已废止	1993-02-22	1993-10-01
GB/T 14201-1993	铁矿球团抗压强度测定方法	已废止	1993-02-22	1993-10-01
GB/T 14453-1993	金属材料高温弹性模量测量方法圆盘振子法	已废止	1993-06-10	1994-01-01
GB/T 5250-1993	可渗透烧结金属材料流体渗透性的测定	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14847-1993	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 15078-1994	贵金属电触点材料接触电阻的测量方法	已废止	1994-05-11	1994-12-01
GB/T 15077-1994	贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法	已废止	1994-05-11	1994-12-01
GB/T 15250-1994	压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法	已废止	1994-09-26	1995-06-01
GB/T 351-1995	金属材料电阻系数测量方法	已废止	1995-04-11	1995-12-01
GB/T 6618-1995	硅片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1480-1995	金属粉末粒度组成的测定干筛分法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6621-1995	硅抛光片表面平整度测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1552-1995	硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1551-1995	硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6616-1995	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6624-1995	硅抛光片表面质量目测检验方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6619-1995	硅片弯曲度测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6617-1995	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01