H21 金属物理性能试验方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 15077-1994	贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法	已废止	1994-05-11	1994-12-01
GB/T 15250-1994	压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法	已废止	1994-09-26	1995-06-01
GB/T 351-1995	金属材料电阻系数测量方法	已废止	1995-04-11	1995-12-01
GB/T 6618-1995	硅片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1480-1995	金属粉末粒度组成的测定干筛分法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6621-1995	硅抛光片表面平整度测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1552-1995	硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1551-1995	硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6616-1995	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6624-1995	硅抛光片表面质量目测检验方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6619-1995	硅片弯曲度测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6617-1995	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 6620-1995	硅片翘曲度非接触式测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
JB/T 7900-1995	高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法	已废止	1996-04-14	1996-04-14
GB/T 16596-1996	确定晶片坐标系规范	已废止	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1424-1996	贵金属及其合金材料电阻系数测试方法	现行	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1423-1996	贵金属及其合金密度的测试方法	现行	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1425-1996	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	已废止	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1553-1997	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	1997-06-03	1997-12-01
GB/T 1550-1997	非本征半导体材料导电类型测试方法	已废止	1997-06-03	1997-12-01