H80 半金属与半导体材料综合
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 | 已废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 已废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 14146-2009 | 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 | 已废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| YS/T 679-2008 | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | 已废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| GB/T 14844-1993 | 半导体材料牌号表示方法 | 已废止 | 1993-12-30 | 1994-09-01 |
| GB/T 14264-1993 | 半导体材料术语 | 已废止 | 1993-03-20 | 1993-12-01 |
| YS/T 23-1992 | 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 24-1992 | 外延钉缺陷的检验方法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |