| GB/T 12859.201-2012 | 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分：空白详细规范-评定水平E | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 3352-2012 | 人造石英晶体 规范与使用指南 | 已废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 12273.501-2012 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 12859.2-2012 | 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2部分：分规范-鉴定批准 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 27700.2-2011 | 有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第2部分：使用指南 | 已废止 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 27700.1-2011 | 有质量评定的声表面波（SAW）滤波器 第1部分：总规范 | 已废止 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| JC/T 2025-2010 | 铌镁钛酸铅（PMNT）压电单晶材料 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| GB/T 22319.8-2008 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 已废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 22318.2-2008 | 声表面波谐振器 第1-2部分：试验条件 | 已废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 22318.1-2008 | 声表面波谐振器 第1-1部分：总则和标准值 | 已废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 22317.1-2008 | 有质量评定的压电滤波器 第1部分：总规范 | 现行 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| SJ/T 11258-2001 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第5-1部分：空白详细规范 | 现行 | 2002-01-31 | 2002-05-01 |
| SJ/T 11256-2001 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 | 已废止 | 2002-01-31 | 2002-05-01 |
| SJ/T 11257-2001 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第5部分：分规范-鉴定批准 | 现行 | 2002-01-31 | 2002-05-01 |
| SJ/T 11212-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分 采用自动网络分析技术 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11199-1999 | 压电石英晶体片 | 已废止 | 1999-02-02 | 1999-05-01 |
| GB/T 16517-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分：分规范 鉴定批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 12273-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分：总规范 | 已废止 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 16516-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分：分规范 能力批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1996-05-01 |