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L56 半导体集成电路

收录 265 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 44777-2024知识产权（IP）核保护指南现行2024-10-262024-10-26
GB/T 44801-2024系统级封装（SiP）术语现行2024-10-262024-10-26
GB/T 44795-2024系统级封装（SiP）一体化基板通用要求现行2024-10-262024-10-26
GB/T 42968.2-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法现行2024-10-262024-10-26
GB/T 20870.4-2024半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关现行2024-10-262024-10-26
T/SZAA 002-2024车身域控制器通用功率驱动装置测试规程现行2024-11-142024-11-30
GB/T 42968.4-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法现行2024-12-312024-12-31
GB/T 44924-2024半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法现行2024-12-312025-04-01
GB/T 44937.4-2024集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法现行2024-12-312024-12-31
SJ/T 12036-2025人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12034-2025人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12026-2025通用算力性能测评方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12035-2025人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12038-2025模拟芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12039-2025模数混合芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12037-2025人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12040-2025数字芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12025-2025通用算力性能测评技术要求现行2025-09-092026-03-01
GB/T 42968.9-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法现行2025-12-022025-12-02
GB/T 42968.3-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法现行2025-12-022025-12-02

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