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29.045 半导体材料

收录 203 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 29851-2013光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法现行2013-11-122014-04-15
GB/T 29849-2013光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法现行2013-11-122014-04-15
GB/T 30453-2013硅材料原生缺陷图谱现行2013-12-312014-10-01
GB/T 30855-2014LED外延芯片用磷化镓衬底现行2014-07-242015-04-01
GB/T 30861-2014太阳能电池用锗衬底片现行2014-07-242015-04-01
GB/T 30854-2014LED发光用氮化镓基外延片现行2014-07-242015-04-01
GB 51034-2014多晶硅工厂设计规范现行2014-08-272015-05-01
YS/T 985-2014硅抛光回收片现行2014-10-142015-04-01
YS/T 986-2014晶片正面系列字母数字标志规范现行2014-10-142015-04-01
YS/T 988-2014羧乙基锗倍半氧化物现行2014-10-142015-04-01
YS/T 989-2014锗粒现行2014-10-142015-04-01
YS/T 978-2014单晶炉碳_碳复合材料导流筒现行2014-10-142015-04-01
YS/T 977-2014单晶炉碳_碳复合材料保温筒现行2014-10-142015-04-01
YS/T 979-2014高纯三氧化二镓现行2014-10-142015-04-01
YS/T 982-2014氢化炉碳_碳复合材料U形发热体现行2014-10-142015-04-01
SJ/T 11470-2014发光二极管外延片现行2014-10-142015-04-01
SJ/T 11471-2014发光二极管外延片测试方法现行2014-10-142015-04-01
GB/T 13389-2014掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程现行2014-12-312015-09-01
YS/T 13-2015高纯四氯化锗现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11488-2015半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法现行2015-04-302015-10-01

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