29.045 半导体材料
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 10482-1994 | 半导体中深能级的瞬态电容测试方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| CB/Z 166-1979 | 压电陶瓷材科体积电阻率ρV测量方法 | 现行 | 1979-10-15 | 1979-10-15 |
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 10482-1994 | 半导体中深能级的瞬态电容测试方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| CB/Z 166-1979 | 压电陶瓷材科体积电阻率ρV测量方法 | 现行 | 1979-10-15 | 1979-10-15 |