31.020 电子元器件综合
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 5839-1986 | 电子管和半导体器件额定值制 | 现行 | 1986-01-29 | 1986-12-01 |
| GB/T 5081-1985 | 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 | 现行 | 1985-04-17 | 1986-01-01 |
| GB/T 4965-1985 | 吸气剂分类及型号命名方法 | 现行 | 1985-02-28 | 1985-11-01 |
| GB/T 3351-1982 | 人造石英晶体的型号命名 | 现行 | 1982-12-27 | 1983-10-01 |
| GB/T 2689.2-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 2689.3-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 2689.4-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 2689.1-1981 | 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法 总则 | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |