31.020 电子元器件综合

收录 350 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 10141-1991	低温电子学术语	现行	1991-04-02	1991-07-01
SJ/T 10163-1991	电子设备危险频率检测方法	现行	1991-04-02	1991-07-01
GB/T 11297.12-1989	电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11297.11-1989	热释电材料介电常数的测试方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11297.10-1989	热释电材料居里温度 T@C 的测试方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11296-1989	红外探测材料型号命名方法	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 9531.5-1988	D 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.2-1988	A 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.6-1988	E 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.3-1988	B 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.1-1988	电子陶瓷零件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9530-1988	电子陶瓷名词术语	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.7-1988	F 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9532-1988	铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法	已废止	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 9531.4-1988	C 类瓷件技术条件	现行	1988-06-28	1989-02-01
GB/T 8763-1988	非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法	已废止	1988-02-25	1989-02-01
GB/T 6990-1986	电子设备用元器件（或部件）规范中可靠性条款的编写指南	已废止	1986-11-19	1987-10-01
GB/T 6993-1986	系统和设备研制生产中的可靠性程序	已废止	1986-11-17	1987-10-01
GB/T 5839-1986	电子管和半导体器件额定值制	现行	1986-01-29	1986-12-01
GB/T 5081-1985	电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南	现行	1985-04-17	1986-01-01